基于JTAG扫描链的嵌入式处理器IP核调试方法研究

摘要

本文描述了一种嵌入式处理器IP核的调试电路结构设计方法,重点讲述了在片调试系统的设计,同时讲了相关调试流程.调试系统使用仿真器使得调试器与处理器CORE内核通过JTAG接口进行通信.调试器通过JTAG扫描链取指方式将指令插入到处理器CORE内核中去执行.片内配置两条扫描链,分别对应片内调试模块和存储器读写总线,事实上,内核的扫描链在用作调试的同时,也可作为测试使用。