首页> 中文会议>第二届中国航天质量论坛 >最坏情况电路分析技术在国内航天的研究状况及发展

最坏情况电路分析技术在国内航天的研究状况及发展

摘要

详细介绍了最坏情况电路分析技术在国内航天领域的研究状况,包括分析步骤及方法、极值数据库建立等,并阐述了在数字电路中的一般应用方法;最后介绍了该技术在国内航天应用中存在的问题及未来发展。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号