关键电子设备贮存环境条件下的主要失效模式研究

摘要

为了确定关键电子设备贮存环境条件下的主要失效模式，航天771所结合“十一五”预先研究课题，开展了多个系列产品的可靠性基础数据的收集、整理与分析工作，并在进一步研究的基础上，完成了预定的目标。本文对整个研究过程进行了较为详细地叙述，给出了相应的应用案例。