二次电子倍增器歧视效应研究和计数法建立

摘要

本文研究了SEM的质量歧视效应和强度歧视效应，测量了质量歧视校正因子，建立了强度歧视效应基本可以忽略的测量方法。为实现弱信号的准确测量，建立了SEM离子计数测量模式，应用钚标样测量检验比较了SEM积分模拟模式和离子计数模式测量结果，在控制离子流强度的条件下，SEM积分模拟模式测量经质量校正的结果和离子计数模式测量的结果均与标样标称值在不确定度范围内符合。SEM离子计数测量模式的研制实现了TIMS对弱信号的高准确分析。