降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究

摘要

应用小角X射线散射研究含能材料降感RDX微缺陷结构，给出了降感RDX样品材料内部微缺陷尺寸以及微缺陷数量信息，分析了降感RDX晶体在生长过程中的微缺陷变化趋势。结果表明降感RDX微缺陷数量密度随晶体粒度增加逐渐降低，微缺陷特征尺度变化较小，另外降感RDX还存在部分择优取向分布特征的微缺陷，其微缺陷密度呈降低趋势。