一种数字IC测试仪逻辑功能测试单元的设计

摘要

提出了一种用于数字IC测试仪的逻辑功能测试单元的设计方法。本文介绍了数字IC测试仪的系统组成及逻辑功能测试的基本原理，给出了基于FPGA的功能测试单元的设计方案，并对FPGA的设计做了详细的说明。文章还给出了基于该设计的数字IC测试实例，验证了该设计方案的可行性。