基于单片机的数字电路功能测试仪的设计

摘要

文章介绍了在实验室环境下,采用单片机最小系统测试数字集成电路的方法.该设计据有硬件简洁、软件编制方便灵活特点,对于通用集成电路可利用固化在片内的品种数据表测试.测试结果通过发光管表示.