首页> 中文会议>2010国际化妆品高峰论坛 >X—射线荧光能谱在化妆品检测中的应用探讨

X—射线荧光能谱在化妆品检测中的应用探讨

摘要

本文概括了化妆品中的主要有害成分及其检测方法,介绍了X-射线荧光能谱法的应用。用X-射线荧光能谱法检测了几种化妆品的元素,进一步探讨了应用于铅、汞、砷等重金属的检测。为化妆品的检测提供一种快速、简单并且低碳环保的检测方法。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号