直线型GIS中绝缘子处电磁波的反射及泄漏特性的仿真研究

摘要

采用超高频法(UHF)检测GIS内部的局部放电,具有灵敏度高、抗干扰能力强等优点,是目前监测GIS最有效和最有前途的方法。绝缘子为GIS内部波阻抗不连续的点,由局部放电产生的超高频电磁波遇到绝缘子时便会发生反射、透射及泄漏。rn 本文采用时域有限差分法进行了建模及仿真计算。仿真结果表明,泄漏电磁波不含TEM 模波,主要为TE21及以上的高阶模波,泄漏的电磁波幅值衰减很快,在与局放源夹角为180度时电磁波幅值最大,并且与局放位于腔体上相比当局放位于高压导体上时泄漏的TE21 模波更多;局放信号经过绝缘子后泄漏的衰减程度远大于渗透的信号,但脉宽越大时泄漏信号的衰减程度越小,而渗透信号的衰减程度越大;经绝缘子反射的电磁波与入射电磁波叠加后出现谐振现象,且反射的电磁波主要为TE21以上的高阶模波。