集成电路IP核项目风险扩散模型研究

摘要

由于项目过程中任务往复叠代、反馈逻辑及集合表现等原因，集成电路IP核项目风险往往呈现显性及表面化特征。本文归纳IP核项目风险元素特征，构建理想条件下的风险扩散模型，分析风险扩散界面的形态及稳定性，提出模型修正方法，对IP核项目进行风险管理提供参考。研究结果表明风险扩散模型能够凸现目前基于设计方法学的IP核开发流程的特点，从风险管理的角度为项目实施与管理提供有益补充。