再制造涂层无损检测技术的研究进展

摘要

再制造涂层的主要缺陷包括微裂纹、微孔隙、氧化夹杂以及服役过程中产生的疲劳裂纹等,各种缺陷的存在对再制造涂层质量和寿命有很大的影响.本文综述了几种可用于检测涂层裂纹等缺陷的方法,包括射线法、超声法、涡流法、磁记忆法、声发射法、红外法等.比较了不同方法的优点和局限性.其中射线检测结果直观,定性、定量、定位都较容易,但是存在安全隐患,检测灵敏度较低;超声检测定位准确,对平面型缺陷敏感,但存在盲区,定性和定量不方便;涡流法检测速度快、效率高,但只能检测导电材料,且只能指出有无缺陷,难于实现缺陷的定性、定位、定量;磁记忆检测对铁磁性材料的表面缺陷敏感,但不能检测非铁磁性材料,且难于定量;声发射检测适用范围广,灵敏度高,但是噪声干扰较大,缺陷定性困难;红外检测结果直观,效率高,定位准确,但费用很高,对内部缺陷不敏感.最后展望了各种检测涂层缺陷方法的应用前景.