单分散铀氧化物微粒的制备及其在SIMS同位素比测定中的应用

摘要

在核保障环境监测中，铀微粒同位素分析为探知未申报的核材料或核活动提供了一种重要的方法。为确保准确测定单个微粒中铀同位素比，需要使用已知丰度、粒径适宜的标准微粒对测量结果进行校准。本工作通过已建立的实验装置，制备了所需的单分散铀氧化物微粒，并通过扫描电子显微镜(SEM )、能谱(EDX)和透射电子显微镜(TEM)对其进行表征。通过二次离子质谱(SIMS)测定该工作标准的校正系数，并对其他样品测量结果进行校正。通过己建立实验装置制备了单分散铀氧化物微粒，并通过SEM-EDX和TEM对其进行表征，将该微粒用于SIMS测定微粒同位素比的校正效果良好，可以满足实验分析要求。