原子荧光光谱法测定纯银中的痕量硒、碲的方法

摘要

本发明提供一种利用原子荧光光谱法测定纯银中的痕量硒、碲的方法，选用硫脲溶液掩蔽测定体系中的残银，而不使用硫脲-抗坏血酸溶液，再使用氢化物发生-原子荧光光谱法测定银中的痕量硒、碲，结果准确可靠，使用本发明不仅能够有效掩蔽干扰离子Zn、Fe、Co、Ni、Cd、Sb、Te、Sn及其组合的影响，而且还能消除银基体本身对硒、碲测量的影响，使铋和硒的测量结果更精确；测定时间短、精度高、检出限低、线性范围宽、能同时、快速测定待测元素，分析范围能达到0.00005%~0.0001%，测定相对偏差在4.1%~17.3%，回收率在98.6%~102.1%；节能、环保、所需试剂少，成本低，对检测人员伤害小，适合大批量样品的分析，具有很好的经济效益和工业应用价值，对指导实际生产具有重要的推广价值。