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International Test Conference
International Test Conference
召开年:
2019
召开地:
Washington(US)
出版时间:
-
会议文集:
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1.
Efficient SATbased Combinational ATPG using Multi-level Don't-Cares
机译:
使用多级不关心的高效SATBASED组合ATPG
作者:
Nikhil S. Saluia
;
Sunil P. Khatri
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
2.
Reliable and Self-Repairing SRAM in Nano-scale Technologies using Leakage and Delay Monitoring
机译:
使用泄漏和延迟监测可靠和自修复SRAM在纳米级技术中
作者:
Saibal Mukhopadhyay
;
Kunhyuk Kang
;
Hamid Mahmoodi
;
Kaushik Roy
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
3.
A Wideband Low-Noise ATE-based Method for Measuring Jitter in GHz Signals
机译:
基于宽带低噪声ate的GHz信号测量抖动方法
作者:
Takahiro J. Yamaguchi
;
Masahiro Ishida
;
Mani Soma
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
4.
Structural Tests for Jitter Tolerance in SerDes Receivers
机译:
Serdes接收器中抖动耐受性的结构测试
作者:
Stephen Sunter
;
Aubin Roy
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
5.
Progressive Random Access Scan: A simultaneous solution to test power, test data volume and test time
机译:
渐进随机访问扫描:测试电源,测试数据量和测试时间的同时解决方案
作者:
Dong Hyun Baik
;
Kewal K. Saluja
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
6.
Data-Driven Models for Statistical Testing: Measurements, Estimates and Residuals
机译:
用于统计测试的数据驱动模型:测量,估计和残差
作者:
W. Robert Daasch
;
Robert Madge
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
7.
A DDJ Calibration Methodology for High-Speed Test and Measurement Equipments
机译:
用于高速测试和测量设备的DDJ校准方法
作者:
Touraj Farahmand
;
Sassan Tabatabaei
;
Freddy Ben-Zeev
;
Andre Ivanov
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
8.
A 16-bit Resistor String DAC with Full-Calibration at Final Test
机译:
一个16位电阻串DAC,在最终测试时具有全校准
作者:
Kumar Parthasarathy
;
Turker Kuyel
;
Zhongjun Yu
;
Degang Chen
;
Randy Geiger
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
Data converters;
DAC calibration;
DAC testing;
9.
UNDERSTANDING NTF COMPONENTS FROM THE FIELD
机译:
了解来自现场的NTF组件
作者:
Scott Davidson
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
10.
The Value of Statistical Testing for Quality, Yield and Test Cost Improvement
机译:
质量,产量和测试成本改进的统计测试的价值
作者:
R. Madge
;
B. Benware
;
M. Ward
;
R. Daasch
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
11.
A NEW APPROACH FOR MASSIVE PARALLEL SCAN DESIGN
机译:
一种新的平行扫描设计方法
作者:
Woo Cheol Chung
;
Dong Sam Ha
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
12.
Definition of a robust Modular SOC Test Architecture; Resurrection of the single TAM daisy-chain
机译:
鲁棒模块化SoC测试架构的定义;单打Tam雏菊链的复活
作者:
Tom Waayers
;
Richard Morren
;
Roberto Grandi
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
13.
Transient Fault Characterization in Dynamic Noisy Environments
机译:
动态嘈杂环境中的瞬态故障表征
作者:
Ilia Polian
;
John P. Hayes
;
Sandip Kundu
;
Bernd Becker
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
Fault detection;
fault modeling;
on-line characterization;
soft faults;
transient faults;
14.
Simulation-based Target Test Generation Techniques for Improving the Robustness of a Software-Based-Self-Test Methodology
机译:
基于仿真的目标测试生成技术,用于提高基于软件自我测试方法的鲁棒性
作者:
Charles H.-P. Wen
;
Li-C. Wang
;
Kwang-Ting Cheng
;
Wei-Ting Liu
;
Ji-Jan Chen
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
15.
Automated Mapping of Pre-Computed Module-Level Test Sequences to Processor Instructions
机译:
预先计算的模块级测试序列的自动映射到处理器指令
作者:
Sankar Gurumurthy
;
Shobha Vasudevan
;
Jacob A. Abraham
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
16.
Efficient SAT-based Combinational ATPG using Multi-level Don't-Cares
机译:
高效的基于SAT的组合ATPG,使用多级不关心
作者:
Nikhil S. Saluja
;
Sunil P. Khatri
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
17.
I_(DDQ) Test Using Built-In Current Sensing of Supply Line Voltage Drop
机译:
I_(DDQ)测试使用电源线电压降的内置电流检测
作者:
Bin Xue
;
D. M. H. Walker
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
18.
Enhanced Launch-Off-Capture Transition Fault Testing
机译:
增强的发射关闭捕获过渡故障测试
作者:
Nisar Ahmed
;
Mohammad Tehranipoor
;
C.P. Ravikumar
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
19.
Direct Cell-Stability Test Techniques for an SRAM Macro with Asymmetric Cell-Bias-Voltage Modulation
机译:
具有非对称细胞偏压调制的SRAM宏的直接电池稳定性测试技术
作者:
Katayama A.
;
Yabe T.
;
Hirabayashi O.
;
Takeyama Y.
;
Kushida K.
;
Sasaki T.
;
Otsuka N.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
20.
On-chip Timing Uncertainty Measurements on IBM Microprocessors
机译:
IBM微处理器上的片上时序不确定性测量
作者:
Franch R.
;
Restle P.
;
James N.
;
Huott W.
;
Friedrich J.
;
Dixon R.
;
Weitzel S.
;
Van Goor K.
;
Salem G.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
21.
Analysis of Retention Time Distribution of Embedded DRAM - A New Method to Characterize Across-Chip Threshold Voltage Variation
机译:
嵌入式DRAM的保留时间分布分布 - 一种特征在芯片阈值电压变化的新方法
作者:
Kong W.
;
Parries P. C.
;
Wang G.
;
Iyer S. S.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
22.
Direct Cell-Stability Test Techniques for an SRAM Macro with Asymmetric Cell-Bias-Voltage Modulation
机译:
具有非对称细胞偏压调制的SRAM宏的直接电池稳定性测试技术
作者:
A. Katayama
;
T. Yabe
;
O. Hirabayashi
;
Y. Takeyama
;
K. Kushida
;
T. Sasaki
;
N. Otsuka
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
23.
On-chip Timing Uncertainty Measurements on IBM Microprocessors
机译:
IBM微处理器上的片上时序不确定性测量
作者:
R. Franch
;
P. Restle
;
N. James
;
W. Huott
;
J. Friedrich
;
R. Dixon
;
S. Weitzel
;
K. Van Goor
;
G. Salem
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
24.
Test Generation for Interconnect Opens
机译:
互连的测试生成打开
作者:
Lin Xijiang
;
Rajski Janusz
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
25.
Test Generation for Interconnect Opens
机译:
互连的测试生成打开
作者:
Xijiang Lin
;
Janusz Rajski
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
26.
Functional Test and Speed/Power Sorting of the IBM POWER6 and Z10 Processors
机译:
IBM Power6和Z10处理器的功能测试和速度/功率分类
作者:
Pham Tung N.
;
Clougherty Frances
;
Salem Gerard
;
Crafts James M.
;
Tetzloff Jon
;
Moczygemba Pamela
;
Skergan Timothy M.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
27.
Pin electronics IC for high speed differential devices
机译:
用于高速差分设备的PIN电子IC
作者:
Atsushi Oshima
;
John Poniatowski
;
Toshihiro Nomura
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
28.
Remote access to engineering test - a case study in providing engineering/diagnostic IC test services to Canadian universities
机译:
远程访问工程测试 - 为加拿大大学提供工程/诊断IC测试服务的案例研究
作者:
R. L. Stevenson
;
M. E. Jarosz
;
C. J. Verver
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
29.
Test cost reduction by at-speed BISR for embedded DRAMs
机译:
用于嵌入式DRAM的AT-Speed BISR测试成本降低
作者:
Yoshihiro Nagura
;
Michael Mullins
;
Anthony Sauvageau
;
Yoshinori Fujiwara
;
Katsuya Furue
;
Ryuji Ohmura
;
Tatsunori Komoike
;
Takenori Okitaka
;
Tetsushi Tanizaki
;
Katsumi Dosaka
;
Kazutami Arimito
;
Yukiyoshi Koda
;
Tetsuo Tada
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
30.
Remote access to engineering test-a case study in providing engineering/diagnostic IC test services to Canadian universities
机译:
远程访问工程测试 - 为加拿大大学提供工程/诊断IC测试服务的案例研究
作者:
Stevenson R.L.
;
Jarosz M.E.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
31.
Test cost reduction by at-speed BISR for embedded DRAMs
机译:
用于嵌入式DRAM的AT-Speed BISR测试成本降低
作者:
Nagura Y.
;
Mullins M.
;
Sauvageau A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
32.
Pin electronics IC for high speed differential devices
机译:
用于高速差分设备的PIN电子IC
作者:
Oshima A.
;
Poniatowski J.
;
Nomura T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
33.
Configuration free SoC interconnect BIST methodology
机译:
配置免费SOC互连BIST方法
作者:
Chauchin Su
;
Wenliang Tseng
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
34.
BIST and fault insertion re-use in telecom systems
机译:
BIST和故障插入在电信系统中重用
作者:
Dikic S.
;
Fritz L.-J.
;
DellAquia D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
35.
Use of BIST in Sun Fire/sup TM/ servers
机译:
在Sun Fire / Sup TM /服务器中使用BIST
作者:
Braden J.
;
Lin Q.
;
Smith B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
36.
Dynamic tests in complex systems
机译:
复杂系统中的动态测试
作者:
Robert Tappe
;
Dietmar Ehrhardt
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
37.
Use of BIST in Sun Fire servers
机译:
在阳光消防器中使用BIST
作者:
John Braden
;
Qing Lin
;
Brian Smith
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
38.
Dynamic tests in complex systems automotive electronics
机译:
复杂系统中的动态测试汽车电子
作者:
Tappe R.
;
Ehrhardt D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
39.
Configuration free SoC interconnect BIST methodology
机译:
配置免费SOC互连BIST方法
作者:
Chauchin Su
;
Wenliang Tseng
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
40.
BIST and fault insertion re-use in telecom systems
机译:
BIST和故障插入在电信系统中重用
作者:
Snezana Dikic
;
Lars-Johan Fritz
;
Dario DellAquia
会议名称:
《International Test Conference》
|
2001年
41.
Verification of device interface hardware interconnections prior to the start of testing
机译:
在测试开始之前验证设备接口硬件互连
作者:
Guy Peterson
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
42.
An automated methodology to diagnose geometric defect in the EEPROM cell
机译:
一种自动化方法,用于诊断EEPROM细胞中的几何缺陷
作者:
J. M. Portal
;
L. Forli
;
H. Aziza
;
D. Nee
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
43.
DFT techniques for wafer-level at-speed testing of high-speed SRAMs
机译:
用于高速SRAM的晶圆级的DFT技术
作者:
O. Hirabayashi
;
A. Suzuki
;
T. Yabe
;
A. Kawasumi
;
Y. Takeyama
;
K. Kushida
;
A. Tohata
;
N. Otsuka
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
44.
Support for debugging in the alpha 21364 microprocessor
机译:
支持在Alpha 21364微处理器中调试
作者:
Timothe Litt
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
45.
Use of pipeline converters for ATE applications
机译:
使用管道转换器进行ATE应用程序
作者:
Maurizio Gavardoni
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
46.
Wafer/package test mix for optimal defect detection
机译:
晶圆/包装测试混合以获得最佳缺陷检测
作者:
Peter C. Maxwell
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
47.
Physical principles of interface design
机译:
界面设计的物理原理
作者:
Todd Sargent
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
48.
Low contact force probing on copper electrodes
机译:
铜电极上的低接触力探测
作者:
Kenichi Kataoka
;
Toshihiro Itoh
;
Katsuya Okumura
;
Tadatomo Suga
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
49.
WCDMA testing with a baseband/IF range AWG
机译:
WCDMA测试基带/ IF范围AWG
作者:
Koji Asami
;
Yasuo Furukawa
;
Michael Purtell
;
Motoo Ueda
;
Karl Watanabe
;
Toshifumi Watanabe
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
50.
Scan test data volume reduction in multi-clocked designs with safe capture technique
机译:
用安全捕获技术扫描多钟设计中的扫描测试数据量减少
作者:
Vishal Jain
;
John Waicukauski
会议名称:
《International Test Conference》
|
2002年
51.
Future Challenges for MEMS Failure Analysis
机译:
MEMS失败分析的未来挑战
作者:
Jeremy A. Walraven
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
52.
IEEE P1581: to live or let die?
机译:
IEEE P1581:生活或死亡?
作者:
de Jong F.
;
van de Logt L.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
关键词:
memory architecture;
test equipment;
integrated circuit testing;
IEEE standards;
IEEE P1581;
test standard;
memories test;
test access;
test circuitry;
P1581 devices;
53.
P1581: TO LIVE OR LET DIE?
机译:
P1581:生活或让死亡?
作者:
Frans de Jong
;
Leon van de Logt
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
54.
Infrastructure IP for Back-End Yield Improvement
机译:
基础设施IP,用于后端产量改进
作者:
L. Forli
;
J. M. Portal
;
D. Nee
;
B. Borot
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
55.
Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint
机译:
路由约束下扫描测试期间功率最小化的高效扫描链设计
作者:
Y. Bonhomme
;
P. Girard
;
L. Guiller
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
56.
BUILDING AN RF SOURCE FOR LOW COST TESTERS USING AN ADPLL CONTROLLED BY TEXAS INSTRUMENTS DIGITAL SIGNAL PROCESSOR (DSP) TMS320C5402
机译:
使用由德州仪器数字信号处理器(DSP)TMS320C5402控制的ADPLL为低成本测试人员构建RF源
作者:
Iboun Taimiya Sylla
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
57.
LOW CONTACT-FORCE FRITTING PROBE CARD USING BUCKLING MICROCANTILEVERS
机译:
使用屈曲微电子的低接触式探针卡
作者:
Kenichi Kataoka
;
Toshihiro Itoh
;
Tadatomo Suga
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
58.
Data flow within an open architecture tester
机译:
开放式架构测试仪中的数据流
作者:
Maurizio Gavardoni
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
59.
EEPROM Memory: Threshold Voltage Built In Self Diagnosis
机译:
EEPROM存储器:阈值电压内置自诊断
作者:
J. M. Portal
;
H. Aziza
;
D. Nee
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
60.
Failure Mechanisms in MEMS
机译:
MEMS中的失败机制
作者:
Jeremy A. Walraven
会议名称:
《International Test Conference》
|
2003年
61.
IS THE CONCERN FOR SOFT-ERROR OVERBLOWN?
机译:
是对软错误过度的关注吗?
作者:
Rajesh Raina
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
62.
The Concern for Soft Errors is Not Overblown
机译:
对软错误的关注并不夸张
作者:
Pia N. Sanda
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
63.
Methods for Improving Test Compression
机译:
改善测试压缩的方法
作者:
Nur A. Touba
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
64.
Panel discussion for 'Have we overcome the Challenges associated with SoC and Multi-Core testing?'
机译:
面板讨论“我们克服了与SOC和多核测试相关的挑战?”
作者:
Nathan Chelstrom
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
65.
SOFT ERRORS: IS THE CONCERN FOR SOFT-ERRORS OVERBLOWN?
机译:
软错误:是对软错误过度的关注吗?
作者:
N. Vijaykrishnan
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
66.
Development of a software framework for Open Architecture ATE
机译:
开发开放式架构的软件框架
作者:
William A Fritzsche
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
67.
A Novel Process and Hardware Architecture to Reduce Burn-In Cost
机译:
一种新颖的过程和硬件架构,可以减少燃烧成本
作者:
Chris Schroeder
;
Jin Pan
;
Todd Albertson
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
68.
Compressed Pattern Diagnosis For Scan Chain Failures
机译:
扫描链故障的压缩模式诊断
作者:
Yu Huang
;
Wu-Tung Cheng
;
Janusz Rajski
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
69.
Power-Scan Chain: Design for Analog Testability
机译:
电源扫描链:模拟可测试性设计
作者:
Amir Zjajo
;
Henk Jan Bergveld
;
Rodger Schuttert
;
Jose Pineda de Gyvez
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
70.
A Structured Approach for the Systematic Test of Embedded Automotive Communication Systems
机译:
嵌入式汽车通信系统系统测试的结构化方法
作者:
E. Armengaud
;
F. Rothensteiner
;
A. Steininger
;
Roman Pallierer
;
M. Horauer
;
M. Zauner
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
71.
Cost-Effective Designs of Field Service for Electronic Systems
机译:
电子系统现场服务的经济高效设计
作者:
Yu-Ting Lin
;
David Williams
;
Tony Ambler
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
72.
TEST CONNECTIONS - Tying Application to Process
机译:
测试连接 - 将应用程序绑定到处理
作者:
John M. Carulli
;
Thomas J. Anderson
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
73.
A Transparent Solution for Providing Remote Wired or Wireless Communication to Board and System Level Boundary-Scan Architectures
机译:
提供远程有线或无线通信的透明解决方案以及系统级边界扫描架构
作者:
Peter Collins
;
Ilkka Reis
;
Mikko Simonen
;
Marc van Houcke
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
74.
A CONCURRENT BIST SCHEME FOR ON-LINE/OFF-LINE TESTING BASED ON A PRE-COMPUTED TEST SET
机译:
基于预计算机测试集的在线/离线测试的并发BIST方案
作者:
Ioannis Voyiatzis
;
Dimitris Gizopoulos
;
Antonis Paschalis
;
Constantine Halatsis
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
75.
Drive Only At Speed Functional Testing; one of the techniques Intel is using to control test costs
机译:
仅在速度功能测试时驱动;英特尔的一个技术用于控制测试成本
作者:
Mike Tripp
;
Silvio Picano
;
Baruch Schnarch
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
76.
A COMPREHENSIVE PRODUCTION TEST SOLUTION FOR 1.5GB/S AND 3GB/S SERIAL-ATA - BASED ON AWG AND UNDERSAMPLING TECHNIQUES
机译:
1.5GB / s和3GB / s串行ATA的综合生产测试解决方案 - 基于AWG和欠采样技术
作者:
Y. Cai
;
A. Bhattacharyya
;
J. Martone
;
A. Verma
;
W. Burchanowski
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
77.
March AB, March AB1: New March Tests for Unlinked Dynamic Memory Faults
机译:
3月AB,3月AB1:新的3月测试,用于未链接的动态存储器故障
作者:
A. Benso
;
A. Bosio
;
S. Di Carlo
;
G. Di Natale
;
P. Prinetto
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
78.
Diagnosis Framework for Locating Failed Segments of Path Delay Faults
机译:
用于定位路径延迟故障段失败的诊断框架
作者:
Ying-Yen Chen
;
Min-Pin Kuo
;
Jing-Jia Liou
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
79.
UltraScan: Using Time-Division Demultiplexing/Multiplexing (TDDM/TDM) with VirtualScan for Test Cost Reduction
机译:
UltraScan:使用具有VirtualScan的时间分割多路分解/多路复用(TDDM / TDM)进行测试成本降低
作者:
Laung-Terng (L.-T.) Wang
;
Khader S. Abdel-Hafez
;
Xiaoqing Wen
;
Boryau Sheu
;
Shianling Wu
;
Shyh-Horng Lin
;
Ming-Tung Chang
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
80.
Test Implications of Lead-Free Implementation in a High-Volume Manufacturing Environment
机译:
在大批量生产环境中无铅实施的测试含义
作者:
Shu Peng
;
Sam Wong
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
81.
IJTAG (Internal JTAG): A Step Toward a DFT Standard
机译:
IJTAG(内部JTAG):迈出DFT标准的一步
作者:
Jeff Rearick
;
Bill Eklow
;
Ken Posse
;
Al Crouch
;
Ben Bennetts
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
82.
'Driver on a Floppy' Delivery of ATE Instrumentation Software
机译:
“软盘上的驱动程序”提供ATE仪器软件
作者:
Dan Proskauer
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
83.
The Effects of Defects on High-Speed Boards
机译:
缺陷对高速板的影响
作者:
Kenneth P. Parker
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
84.
Calibrating Clock Stretch During AC Scan Testing
机译:
校准时钟伸展在交流扫描测试期间
作者:
Jeff Rearick
;
Richard Rodgers
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
85.
Test Time Reduction of Successive Approximation Register A/D Converter By Selective Code Measurement
机译:
通过选择性代码测量测试连续近似寄存器A / D转换器的时间减小
作者:
Shalabh Goyal
;
Abhijit Chatterjee
;
Mike Atia
;
Howard Iglehart
;
Chung Yu Chen
;
Bassem Shenouda
;
Nash Khouzam
;
Hosam Haggag
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
Linearity testing;
jitter;
INL;
DNL;
LSB;
MSB;
86.
Testing High-Speed, Large Scale Implementation of SerDes I/Os on Chips Used in Throughput Computing Systems
机译:
在吞吐量计算系统中使用的芯片上测试高速,大规模实施Serdes I / O
作者:
Iain Robertson
;
Graham Hetherington
;
Tom Leslie
;
Ishwar Parulkar
;
Ronald Lesnikoski
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
87.
Testing Priority Address Encoder Faults of Content Addressable Memories
机译:
测试优先级地址内容寻址存储器的编码器故障
作者:
Jin-Fu Li
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
关键词:
Content addressable memories;
comparison faults;
priority address encoder faults;
88.
Towards Achieving Relentless Reliability Gains in a Server Marketplace of Teraflops, Laptops, Kilowatts
机译:
实现Teraflops,笔记本电脑,Kilowatts的服务器市场中实现无情的可靠性收益
作者:
Jody Van Horn
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
89.
Analysis of Pseudo-Interleaving AWG
机译:
伪交错AWG分析
作者:
Hideo Okawara
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
90.
LAYERING OF THE STIL EXTENSIONS
机译:
STIL扩展的分层
作者:
Greg Maston
;
Tony Taylor
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
91.
VERIFYING FLYING PROBER PERFORMANCE - FITNESS IS SURVIVAL
机译:
验证飞行概率性能 - 健身是生存
作者:
Bob Russell
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
92.
Synthesis of Non-Intrusive Concurrent Error Detection Using an Even Error Detecting Function
机译:
使用偶数误差检测函数来合成非侵入式并发错误检测
作者:
Avijit Dutta
;
Nur A. Touba
;
The Institute of Electrical and Electronics EngineersInc.
会议名称:
《International Test Conference》
|
2005年
93.
IEEE 1500 Compatible Secure Test Wrapper For Embedded IP Cores
机译:
IEEE 1500用于嵌入式IP核心的兼容安全测试包装器
作者:
Geng-Ming Chiu
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
94.
Capture and Shift Toggle Reduction (CASTR) ATPG to Minimize Peak Power Supply Noise
机译:
捕获和移位切换减少(CASTR)ATPG以最小化峰值电源噪声
作者:
Hsiu-Ting Lin
;
Jen-Yang Wen
;
James Li
;
Ming-Tung Chang
;
Min-Hsiu Tsai
;
Sheng-Chih Huang
;
Chih-Mou Tseng
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
95.
VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department
机译:
EE部门学生的VLSI测试练习课程
作者:
Satoshi Komatsu
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
96.
A Generic Framework for Scan Capture Power Reduction in Test Compression Environment
机译:
用于测试压缩环境中的扫描捕获功率降低的通用框架
作者:
Xiao Liu
;
Feng Yuan
;
Qiang Xu
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
97.
The Importance of Functional-Like Access for Memory Test
机译:
内存测试的功能式访问的重要性
作者:
Phelps Jonathan
;
Johnson Chuck
;
Goodrich Corey
;
Kokrady Aman
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
98.
A Low-Cost Programmable Memory BIST Design for Multiple Memory Instances
机译:
用于多个内存实例的低成本可编程内存BIST设计
作者:
Lin Chung-Fu
;
Huang Chia-Fu
;
Lu De-Chung
;
Hsu Chih-Chiang
;
Chiu Wen-Tsung
;
Chen Yu-Wei
;
Chang Yeong-Jar
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
99.
Test-Access Solutions for Three-Dimensional SOCs
机译:
三维SoC的测试访问解决方案
作者:
Xiaoxia Wu
;
Yibo Chen
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Yuan Xie
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
100.
IEEE P1581 drastically simplifies connectivity test for memory devices
机译:
IEEE P1581大大简化了内存设备的连接测试
作者:
Heiko Ehrenberg
会议名称:
《International Test Conference》
|
2008年
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