首页> 外文会议>International Test Conference >VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department
【24h】

VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department

机译:EE部门学生的VLSI测试练习课程

获取原文

摘要

In the deep sub-micron technology era, test of VLSI chips becomes much more important in the education of EE department. This paper reports a new trial of VLSI test exercise course in University of Tokyo.
机译:在深层微米科技时代,VLSI芯片的试验在EE部门的教育方面变得更加重要。本文报告了东京大学VLSI测试练习课程的新试验。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号