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Tuning threshold voltage through meta stable plasma treatment

机译:通过元稳定等离子体处理调节阈值电压

摘要

A method includes forming a first high-k dielectric layer over a first semiconductor region, forming a second high-k dielectric layer over a second semiconductor region, forming a first metal layer comprising a first portion over the first high-k dielectric layer and a second portion over the second high-k dielectric layer, forming an etching mask over the second portion of the first metal layer, and etching the first portion of the first metal layer. The etching mask protects the second portion of the first metal layer. The etching mask is ashed using meta stable plasma. A second metal layer is then formed over the first high-k dielectric layer.
机译:一种方法包括在第一半导体区域上形成第一高k电介质层,在第二半导体区域上形成第二高k电介质层,形成包括第一高k介电层的第一部分的第一金属层和一个 在第二高k介电层上的第二部分,在第一金属层的第二部分上形成蚀刻掩模,并蚀刻第一金属层的第一部分。 蚀刻掩模保护第一金属层的第二部分。 蚀刻掩模使用Meta稳定的等离子体进行灰。 然后在第一高k介电层上形成第二金属层。

著录项

  • 公开/公告号US11239083B2

    专利类型

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY LTD.;

    申请/专利号US202016740878

  • 申请日2020-01-13

  • 分类号H01L21/02;H01L21/28;H01L21/8238;G03F7/09;H01L29/66;H01L21/027;H01L21/3213;H01L27/092;H01L29/08;H01L29/49;G03F7/16;G03F7/20;G03F7/26;H01L21/32;H01L21/30;H01L21/3205;H01L21/324;

  • 国家 US

  • 入库时间 2024-06-14 22:43:43

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