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DC offset calibration system and method

机译:直流胶印校准系统和方法

摘要

A DC offset calibration system and method. The method includes: in a first calibration mode, outputting a first digital signal by using a control circuit, generating a first differential calibration signal according to the first digital signal by using a first digital-to-analog conversion circuit, generating a first amplified signal according to the first differential calibration signal by using an amplification circuit, and feeding back the first amplified signal to the control circuit to adjust the first digital signal; and in a second calibration mode, outputting a second digital signal by using the control circuit, generating a second differential calibration signal according to the second digital signal by using a second digital-to-analog conversion circuit, generating a second amplified signal according to the second digital signal by using an equalizing circuit and the amplification circuit, and feeding back the second amplified signal to the control circuit to adjust the second digital signal.
机译:直流偏移校准系统和方法。该方法包括:在第一校准模式下,通过使用控制电路输出第一数字信号,通过使用第一数字到模拟转换电路产生根据第一数字信号的第一差分校准信号,产生第一放大信号根据使用放大电路的第一差分校准信号,并将第一放大信号馈送到控制电路以调整第一数字信号;在第二校准模式下,通过使用控制电路输出第二数字信号,通过使用第二数字到模拟转换电路产生根据第二数字信号的第二差分校准信号,从而根据第二数字信号通过使用均衡电路和放大电路,并将第二放大信号馈送到控制电路以调整第二数字信号。

著录项

  • 公开/公告号US11218232B1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIGMASTAR TECHNOLOGY LTD.;

    申请/专利号US202117207779

  • 发明设计人 JIAN LI;KAI SUN;

    申请日2021-03-22

  • 分类号H04B17;H04B17/21;H04B1/16;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 23:10:41

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