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HIGH IMPEDANCE FAULT DETECTION AND LOCATION ACCURACY

机译:高阻抗故障检测和位置准确度

摘要

High impedance fault (HIF) detection and location accuracy is provided. An HIF has random, irregular, and unsymmetrical characteristics, making such a fault difficult to detect in distribution grids via conventional relay measurements with relatively low resolution and accuracy. Embodiments disclosed herein provide a stochastic HIF monitoring and location scheme using high-resolution time-synchronized data in micro phasor measurement units (μ-PMUs) for distribution network protection. In particular, a fault detection and location process is systematically designed based on feature selections, semi-supervised learning (SSL), and probabilistic learning.
机译:提供高阻抗故障(HIF)检测和定位精度。 HIF具有随机,不规则和不对称的特性,使得通过传统的继电器测量以相对较低的分辨率和精度来检测在分配网格中难以检测这种故障。 这里公开的实施例提供了一种在微相位测量单元(μ--MMU)中的高分辨率时间同步数据提供了一种随机HIF监测和位置方案,用于分配网络保护。 特别地,基于特征选择,半监督学习(SSL)和概率学习来系统地设计故障检测和位置过程。

著录项

  • 公开/公告号US2021396799A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QIUSHI CUI;YANG WENG;

    申请/专利号US202117337976

  • 发明设计人 QIUSHI CUI;YANG WENG;

    申请日2021-06-03

  • 分类号G01R31/08;G01R23/16;G01R27/16;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 22:59:32

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