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Measuring and removing the corruption of time-of-flight depth images due to internal scattering

机译:由于内部散射,测量和去除飞行时间深度图像的损坏

摘要

Depth imagers can implement time-of-flight operations to measure depth or distance of objects. A depth imager can emit light onto a scene and sense light reflected back from the objects in the scene using an array of sensors. Timing of the reflected light hitting the array of sensors gives information about the depth or distance of objects in the scene. In some cases, corrupting light that is outside of a field of view of a pixel in the array of sensors can hit the pixel due to internal scattering or internal reflections occurring in the depth imager. The corrupting light can corrupt the depth or distance measurement. To address this problem, an improved depth imager can isolate and measure the corrupting light due to internal scattering or internal reflections occurring in the depth imager, and systematically remove the measured corrupting light from the depth or distance measurement.
机译:深度成像仪可以实现飞行时间操作以测量对象的深度或距离。 深度成像器可以通过传感器数组从场景中的物体反射回的场景和感测光。 击中传感器阵列的反射光的定时提供了有关场景中对象的深度或距离的信息。 在一些情况下,在传感器阵列中的像素的视野之外的损坏光可以击中由于深度成像器中发生的内部散射或内部反射而导致的像素。 损坏的光可能会破坏深度或距离测量。 为了解决这个问题,改进的深度成像器可以隔离和测量由于在深度成像器中发生的内部散射或内部反射而损坏的光,并系统地从深度或距离测量中删除测量的损坏光。

著录项

  • 公开/公告号US11092678B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ANALOG DEVICES INC.;

    申请/专利号US201916387385

  • 申请日2019-04-17

  • 分类号G01S7/487;G01S7/48;G01S17/10;H04N5/225;H04N5/243;G01S17/894;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 20:37:41

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