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Fault analysis device, multi-cluster system, fault analysis program and fault analysis method

机译:故障分析设备,多集群系统,故障分析程序和故障分析方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a failure analysis device for identifying the cause of a failure when a failure occurs in a multi-cluster system during operation of a console device. In a multi-cluster system, a failure analysis device 40 includes a first determination unit 405 and a second determination unit 406. The first determination unit determines whether or not the cluster state of the cluster at the time of the input operation and the cluster state of the cluster 10 on the input screen match with respect to the input operation performed via the input screen 309 in the console device 30. do. When the cluster state of the cluster at the time of input operation and the cluster state of the cluster on the input screen match, the second determination unit determines whether the input operation corresponds to a prohibited operation for the cluster state of the cluster at the time of operation. To judge. [Selection diagram] Fig. 2
机译:要解决的问题:提供一种故障分析装置,用于识别当在控制台设备的操作期间在多簇系统中发生故障时失败的原因。 在多集群系统中,故障分析设备40包括第一确定单元405和第二确定单元406.第一确定单元在输入操作和群集状态时确定簇的群集状态是否 在输入屏幕上的群集10相对于通过控制台设备30中的输入屏幕309执行的输入操作匹配。 当输入操作时簇的群集状态和输入屏幕上的集群的群集状态匹配时,第二确定单元确定输入操作是否对应于当时群集的群集状态的禁止操作 操作。 判断。 [选择图]图2

著录项

  • 公开/公告号JP2021117547A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20200008644

  • 发明设计人 松本 直樹;

    申请日2020-01-22

  • 分类号G06F11/07;G06F11/34;G06F11/32;G06F11/30;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 20:30:11

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