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Device and method for inspecting sample blanks, removal station and machine for processing sheet-form elements

机译:用于检查样品坯料,移除站和机器的装置和方法,用于加工片状元素

摘要

The invention relates to a device (6) for inspecting exposed samples (P) for a machine (1) for processing elements in sheet form, said processing machine (1) comprising a discharge mat (93; 94) a plurality of work stations (300, 400, 500, 600) comprising at least one waste discharge station (600) comprising and an optical monitoring device 7 configured to determine a quality defect of the exposed sample P. The present invention also relates to a waste discharge station ( 600 ), a machine ( 1 ) for processing sheet-like elements and a method for quality control of exposed samples.
机译:本发明涉及一种用于检查机器(1)的暴露样品(P)的装置(6),所述用于处理片材形式的元件,所述处理机(1)包括放电垫(93; 94)多个工作站( 300,400,500,600)包括至少一个废物排放站(600),包括和光学监测装置7,光学监测装置7被配置为确定暴露的样品P的质量缺陷。本发明还涉及废物排放站(600) ,一种用于加工片状元件的机器(1)和用于暴露样本的质量控制的方法。

著录项

  • 公开/公告号KR102284555B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR1020197033724

  • 发明设计人 샤뜨리 파뜨리스;

    申请日2018-04-09

  • 分类号B65H29/58;B26D5;B26D7/18;B65H29/04;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 20:26:50

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