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Method for gauging surfaces with classification of measurements as valid or non-valid

机译:测量曲面的方法,测量分类为有效或无效

摘要

A method for measurement of a surface, in particular according to the principle of Optical Coherence Tomography, whereby distances to points of the surface are measured based on interferograms and classifying of measurements as non-valid or valid based on evaluation of phase change or amplitude change of a respective interferogram.
机译:一种用于测量表面的方法,特别是根据光学相干断层扫描的原理,从而基于干扰图测量表面的距离,并根据相变或幅度变化的评估为无效或有效的测量来测量测量值相应的干涉图。

著录项

  • 公开/公告号US11067390B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH;

    申请/专利号US202016784141

  • 发明设计人 FRANK PRZYGODDA;THOMAS JENSEN;

    申请日2020-02-06

  • 分类号G01B11/30;G01B9/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 20:01:22

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