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Direct sample introduction device and cooling method of sample introduction probe

机译:直接样品引入装置和样品引入探头的冷却方法

摘要

Problem to be solved: to provide a direct sample introducing apparatus capable of cooling the heated sample introduction probe in a short time and capable of shortening the waiting time until the sample introduction probe is taken out.A direct sample introduction apparatus 1 has an internal exhaust 3 extending in the first direction, a preliminary exhaust chamber 2 penetrating through the sample introduction probe 10 in the first direction, an opening closing first vent part 4 to which a first end 4a is connected to a preliminary exhaust chamber, and a first end 5A connected to a preliminary exhaust chamber. The second end 5b is provided with a second vent 5 connected to the low pressure source 31.Diagram
机译:要解决的问题:提供一种直接样品,能够在短时间内冷却加热的样品引入探针,并能够缩短等待时间,直到取出样品引入探针。直接样品引入装置1具有沿第一方向延伸的内排3,初步排气室2在第一方向上穿过样品引入探针10,第一端4a连接到该开口闭合第一通气部4初步排气室和连接到初步排气室的第一端5A。第二端5b设置有连接到低压源31的第二通气5。图表

著录项

  • 公开/公告号JP2021103133A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社島津製作所;

    申请/专利号JP20190234813

  • 发明设计人 平松 良朗;

    申请日2019-12-25

  • 分类号G01N27/62;H01J49/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2024-06-14 21:48:36

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