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MEASUREMENT RECIPE OPTIMIZATION BASED ON PROBABILISTIC DOMAIN KNOWLEDGE AND PHYSICAL REALIZATION

机译:基于概率域知识和物理实现的测量配方优化

摘要

Methods and systems for training and implementing metrology recipes based on performance metrics are employed to quantitatively characterize the measurement performance of a metrology system in a particular measurement application. Performance metrics are employed to regularize the optimization process employed during measurement model training, model-based regression, or both.
机译:用于基于性能度量的培训和实施计量配方的方法和系统用于定量表征特定测量应用中计量系统的测量性能。使用性能指标用于规范测量模型培训,模型的回归或两者之间使用的优化过程。

著录项

  • 公开/公告号WO2021113063A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KLA CORPORATION;

    申请/专利号WO2020US60642

  • 发明设计人 PANDEV STILIAN;LU WEI;SANKO DZMITRY;

    申请日2020-11-16

  • 分类号G06N7;G06N20;H01L21/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 19:17:18

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