首页> 外国专利> Embedded logic analyzer and integrated circuit including the same

Embedded logic analyzer and integrated circuit including the same

机译:嵌入式逻辑分析仪和集成电路,包括相同

摘要

An embedded logic analyzer of an integrated circuit includes a comparison block configured to generate a capture data signal and a plurality of comparison enable signals based on an input data signal from one of function blocks included in the integrated circuit such that the comparison enable signals are activated respectively based on different comparison conditions; an operation block configured to perform a logic operation on the comparison enable signals to generate a data enable signal indicating a data capture timing; and packer circuitry configured to generate a packer data signal including capture data and capture time information based on the capture data signal, the data enable signal and a time information signal.
机译:集成电路的嵌入式逻辑分析器包括比较块,该比较块被配置为产生基于来自集成电路中包括的功能块之一的输入数据信号产生捕获数据信号和多个比较使能信号,使得激活比较使能信号分别基于不同的比较条件;配置为在比较使能信号上执行逻辑操作以生成指示数据捕获定时的数据使能信号;和封隔器电路被配置为基于捕获数据信号,数据使能信号和时间信息信号产生包括捕获数据和捕获时间信息的封隔器数据信号。

著录项

  • 公开/公告号US11029357B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201615170020

  • 发明设计人 JOON-WON KO;

    申请日2016-06-01

  • 分类号G01R31/317;H03K19/173;H03K19/17764;H03K5/26;G01R31/3177;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 19:05:39

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号