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METAL SELENIDE AND METAL TELLURIDE THIN FILMS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE APPLICATIONS

机译:金属硒化物和金属碲化物用于半导体器件应用的薄膜

摘要

In some embodiments, a method of forming a metal selenide or metal telluride thin film is provided. According to some methods, a metal selenide or metal telluride thin film is a periodic deposition comprising contacting the substrate with a first vapor phase metal reactant and a second vapor phase selenium or tellurium reactant in at least one cycle alternatingly and continuously. It is deposited on the substrate in the reaction space in the process. In some aspects, a method of forming a three-dimensional architecture on a substrate surface is provided. In some embodiments, the method includes forming a metal selenide or metal telluride interfacial layer between the substrate and the dielectric. In some embodiments, the method includes forming a metal selenide or metal telluride dielectric layer between the substrate and the conductive layer.
机译:在一些实施方案中,提供了一种形成金属硒化型或金属碲化肽薄膜的方法。根据一些方法,金属硒化物或金属碲化肽薄膜是周期性沉积,包括在至少一个循环中与第一气相金属反应物和第二气相硒或碲反应物接触,交替地和连续地接触第二气相硒或碲反应物。它在该方法中沉积在反应空间中的基材上。在一些方面,提供了在基板表面上形成三维架构的方法。在一些实施方案中,该方法包括在基板和电介质之间形成金属硒化硒或金属碲化物界面层。在一些实施方案中,该方法包括在基板和导电层之间形成金属硒化物或金属碲化镍介电层。

著录项

  • 公开/公告号KR102248477B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR1020160074571

  • 申请日2016-06-15

  • 分类号H01L29/18;H01L21/02;H01L21/768;H01L29/66;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 18:46:41

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