首页> 外国专利> SYSTEM FOR MEASURING A MICROWAVE DIELECTRIC PROPERTY OF A SOLID MATERIAL UNDER FORCE

SYSTEM FOR MEASURING A MICROWAVE DIELECTRIC PROPERTY OF A SOLID MATERIAL UNDER FORCE

机译:用于测量在力下固体材料的微波介电性能的系统

摘要

Disclosed herein is a system for measuring a microwave dielectric property of a solid material under force. The system measures the microwave dielectric property of the solid material under a horizontal pressure. A shield case for microwave electromagnetic shielding is provided outside the system. The shield case includes a layer of pure aluminum and a layer of pyramids made of a microwave absorbing material. A manual hydraulic pump controls loading and unloading of a pressure loading device.
机译:本文公开了一种用于测量在力下固体材料的微波介电性的系统。该系统在水平压力下测量固体材料的微波介电性能。用于微波电磁屏蔽的屏蔽壳设置在系统外部。屏蔽壳包括一层纯铝和由微波吸收材料制成的金字塔层。手动液压泵控制压力装载装置的装载和卸载。

著录项

  • 公开/公告号US2021132130A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CENTRAL SOUTH UNIVERSITY;

    申请/专利号US202117147230

  • 发明设计人 LIXIN WU;WENFEI MAO;YUAN QI;

    申请日2021-01-12

  • 分类号G01R27/26;G01N3/12;G01N3/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 18:34:56

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号