首页> 外国专利> Millimeter-wave detect or reflect array

Millimeter-wave detect or reflect array

机译:毫米波检测或反射阵列

摘要

A device for selectively reflecting an incident microwave signal or millimeter-wave signal includes multiple antennae disposed in an array. Each antenna has an input adapted to selectively receive a forward bias signal or a zero bias signal. The device also includes a diode disposed at each input of each antenna. The device also includes a switching device connected to each input, and configured to selectively apply a forward bias or zero bias to each of the diodes. In forward bias, each of the antennae detects the incident microwave signal or millimeter wave signal, and in zero bias, each of the antennae reflects the incident microwave signal or millimeter wave signal.
机译:用于选择性地反射入射微波信号或毫米波信号的装置包括设置在阵列中的多个天线。每个天线的输入适于选择性地接收正向偏置信号或零偏置信号。该设备还包括设置在每个天线的每个输入处的二极管。该设备还包括连接到每个输入的切换设备,并且被配置为选择性地向每个二极管施加向前偏置或零偏压。在向前偏置时,每个天线检测入射的微波信号或毫米波信号,并且在零偏置中,每个天线反射入射的微波信号或毫米波信号。

著录项

  • 公开/公告号US10978810B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KEYSIGHT TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US201916547681

  • 发明设计人 GREGORY S. LEE;PAUL L. CORREDOURA;

    申请日2019-08-22

  • 分类号H01Q19/10;H01Q3/26;H01Q15;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 18:10:44

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号