首页> 外国专利> Handler change kit for a test system

Handler change kit for a test system

机译:用于测试系统的处理程序更改套件

摘要

An example system includes a receptacle to house a device under test (DUT); an antenna for exchanging signals with the DUT, where at least some of the signals are for use in performing radiated testing of the DUT; and a cap configured to mate to the receptacle to form a housing to enclose the DUT. The housing is for isolating the DUT at least one of physically or electromagnetically.
机译:示例系统包括容纳被测设备的容器(DUT);用于与DUT交换信号的天线,其中至少一些信号用于执行DUT的辐射测试;和帽,帽被配置为与插座配合以形成壳体以封闭DUT。壳体用于将DUT分离至少一个物理或电磁解。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号