首页> 外国专利> device for microscopic examination the walls of narrow hohlraeumen in pearls, small parts and the like

device for microscopic examination the walls of narrow hohlraeumen in pearls, small parts and the like

机译:显微镜检查珍珠,细小零件等中的窄孔壁的装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000000458813A

    专利类型

  • 公开/公告日1928-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 REICHERT FA C;

    申请/专利号DER0066444D

  • 发明设计人 SUWA IGNAZ;

    申请日1926-01-17

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 10:00:39

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号