首页> 外国专利> device for back-up of effect in the analysis of an ionisation chamber housed materials whose characteristic is measured sekundaerstrahlung

device for back-up of effect in the analysis of an ionisation chamber housed materials whose characteristic is measured sekundaerstrahlung

机译:在电离室中分析材料的效果的备份设备

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000000495467A

    专利类型

  • 公开/公告日1930-04-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DED0057274D

  • 发明设计人

    申请日1925-06-05

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 09:08:37

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号