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机译:提高韦氏硬度测量精度的装置
公开/公告号DE665730C
专利类型
公开/公告日1938-10-03
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKT.-GES.;
申请/专利号DE1934S114712D
发明设计人 PASCHEN PAUL;
申请日1934-07-14
分类号G01R11/36;G01R19/22;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 05:25:39
机译: 装置以提高wechselstromzaehlern的准确性
机译: 通过在具有至少两个旋转切割(刀)盘(分型轮)的机器上通过自动重新调整电子测距设备来提高尺寸精度(真实性)或测量精度的设备
机译: 在光电测量设备中用于提高测量精度的设备。