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method for common untersuhung of translucent objects according to the schlierenverfahren and interferenzverfahren

机译:schlierenverfahren和interfernzverfahren的半透明物体的常见解锁方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000000729121A

    专利类型

  • 公开/公告日1942-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VERSUCHSANSTALT FUER LUFTFAHRT;

    申请/专利号DED0080874D

  • 发明设计人 STRAUSS DR-ING ERICH;

    申请日1939-07-22

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 03:49:37

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