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机译:一种利用电子束对结构不均匀物体进行精细结构分析的方法。
公开/公告号DE845275C
专利类型
公开/公告日1952-07-31
原文格式PDF
申请/专利权人 BOETTCHER ALFRED DR. RER. TECHN. HABIL.;
申请/专利号DE1949P054058
发明设计人 BOETTCHER ALFRED DR. RER. TECHN. HABIL.;
申请日1949-09-07
分类号H01J37/295;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 01:08:55
机译: 电子束分析结构不均匀物体的方法
机译: 在计算机诊断中用于可视化或自动检测结构特征的病理对象分析方法,涉及在分析过程中将数学方法集中于识别的结构和形式
机译: 电子束分析结构异质表面的方法和装置的改进或相关