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Interference microscopy, the in particular for executing of deep - measurements on smooth surfaces have irregular maes is determined

机译:确定了干涉显微镜,特别是在光滑表面上有不规则斑点的深层测量。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE928429C

    专利类型

  • 公开/公告日1955-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FA. CARL ZEISS;

    申请/专利号DE1943Z000605D

  • 发明设计人 RAENTSCH KURT DR.-ING.;HELFER DANIEL;

    申请日1943-01-31

  • 分类号G02B21/14;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 23:25:13

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