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机译:确定了干涉显微镜,特别是在光滑表面上有不规则斑点的深层测量。
公开/公告号DE928429C
专利类型
公开/公告日1955-06-02
原文格式PDF
申请/专利权人 FA. CARL ZEISS;
申请/专利号DE1943Z000605D
发明设计人 RAENTSCH KURT DR.-ING.;HELFER DANIEL;
申请日1943-01-31
分类号G02B21/14;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 23:25:13
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