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机译:伦·施塔伦伦测角仪
公开/公告号DE1004827B
专利类型
公开/公告日1957-03-21
原文格式PDF
申请/专利权人 GEN ELECTRIC;
申请/专利号DE1953G013131
发明设计人 ASP ERIC THEODORE;DECKER BEULAH FIELD;GEISLER ALFRED HOLLIS;
申请日1953-11-21
分类号G01N23/20;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 22:26:39
机译: roentgenstr ahlen测角仪,用于快速测定光束范围内和rueck上的晶体样品的质地
机译: 伦氏横倾仪测定晶体样品的质地
机译: 伦氏横测仪可快速测定束状区和光束区域中晶体样品的质地