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机译：用于通过X射线对固体，流体和气体进行光谱化学分析和结构分析的设备
公开/公告号US2908821A
专利类型
公开/公告日1959-10-13
原文格式PDF
申请/专利权人 ONTARIO RESEARCH FOUNDATION;
申请/专利号US19550506585
发明设计人 SCHUMACHER WILHELM WALTER BERTHOLD;
申请日1955-05-06
分类号G01N23/223;
国家 US
入库时间 2022-08-23 19:38:46
机译： 用于通过X射线对固体，液体和气体进行光谱化学分析和结构分析的设备
机译： 用于表面或界面上的纳米材料的结构分析以及固/液界面的结构分析的快速x射线衍射方法以及用于该方法的设备
机译： 固体和气体的散射化学分析和结构分析的设备，例如：fluentigkeiten：X射线，伦琴射线，伦琴射线
