• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外国专利> method and device for measuring the length of an endless strip of od. etc. during a behandlungsvorganges

method and device for measuring the length of an endless strip of od. etc. during a behandlungsvorganges

机译：的方法来测量od的无尽长度的长度。遗留爆炸物等期间

页面导航
  • 著录项
  • 相似文献

摘要

机译：

著录项

  • 公开/公告号AT236662B

    专利类型

  • 公开/公告日1964-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ING. ALOIS WACKERLE;

    申请/专利号AT19610006616

  • 发明设计人 ING. ALOIS WACKERLE;

    申请日1961-08-29

  • 分类号

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-23 16:47:21

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号