退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:通过谐振腔中的传输损耗测量半导体体积电阻率的方法和装置
公开/公告号US3211999A
专利类型
公开/公告日1965-10-12
原文格式PDF
申请/专利权人 WESTERN ELECTRIC COMPANY INCORPORATED;
申请/专利号US19600024949
发明设计人 ALLERTON GEORGE L.;SEIFERT JAMES R.;
申请日1960-04-27
分类号G01N22/00;G01R27/28;
国家 US
入库时间 2022-08-23 15:22:24
机译: 能够根据原子电缆绝缘材料的劣化状态来测量绝缘材料的体积电阻率的能够测量绝缘电缆的体积电阻率的原子电缆体积电阻率测量装置以及使用该方法的测量方法
机译: 传输损耗测量方法,传输损耗测量设备和传输损耗测量程序
机译: 试样液测定装置的体积电阻率及使用该体积电阻率的测定方法