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机译：测量场大的干扰或干扰条纹设备
公开/公告号DE977445C
专利类型
公开/公告日1966-06-23
原文格式PDF
申请/专利权人 THE CENTRAL TRUST COMP.;
申请/专利号DE1950Z001069
发明设计人 ZOBEL THEO DR.-ING.;
申请日1950-07-25
分类号G01N21/45;G02B27/54;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 14:55:38
机译： 磁共振层析成像系统的干扰场检测方法，涉及使用便携式测量装置在安装场所测量由外部干扰源产生的静，动态磁场
机译： 用于绝对测量磁通量的基于超导量子干涉装置的传感器组件具有布置的超导量子干涉装置，以便执行类似的磁场测量
机译： 一种测量由电子组件的HF场产生的干扰影响的方法，其中将电缆连接到该组件，并将其中产生的电流用作干扰影响的量度
