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机译:测量显微镜,尤其是用于核痕迹的显微镜
公开/公告号DE000001235006A
专利类型
公开/公告日1967-02-23
原文格式PDF
申请/专利权人 LEITZ ERNST GMBH;
申请/专利号DEST012767A
发明设计人 STODIEK DIPL-PHYS WOLFGANG;
申请日1957-07-15
分类号
国家 DE
入库时间 2022-08-23 14:12:01
机译: 测量显微镜,尤其是用于核痕迹的显微镜
机译: 蚀刻产生的kernspur或各种kernspuren重离子的方法和通过蚀刻形成的kernspurenmikrolöchern,以及实施该方法的装置
机译: 通过评估辐照后的蚀刻箔中的kernspuren确定辐射剂量的程序