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Device for measuring beam quality of ionizing radiation comprising first and second detectors of different radiation lengths

机译：用于测量电离辐射束质量的设备，包括具有不同辐射长度的第一和第二检测器

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机译：

著录项

  • 公开/公告号US3329815A

    专利类型

  • 公开/公告日1967-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AVCO CORPORATION;

    申请/专利号US19640339499

  • 发明设计人 KRAMER GORDON;

    申请日1964-01-22

  • 分类号G01T1/24;H01L31/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 13:44:13

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