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a method for measuring the reflexionsfaktors a part in mikrowellengebiet

机译:一种测量反射系数的方法,该反射系数是mikrowellengebiet中的一部分

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000001281564A

    专利类型

  • 公开/公告日1968-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DES0069816A

  • 发明设计人 NIEDEREDER DIPL-ING MARTIN;

    申请日1958-10-27

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 13:17:47

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