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机译：使用半导体体来检测磁场的探头，该导体用于电气特性方向的部件，
公开/公告号DE1281578B
专利类型
公开/公告日1968-10-31
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE1963S084816
发明设计人 WILHELM DIPL.-CHEM. DR. MANFRED;WEISS DIPL.-PHYS. DR. HERBERT;
申请日1963-04-23
分类号C30B21/02;C30B21/04;H01F1/00;H01F1/40;H01L21/00;H01L29/00;H01L31/00;H01L43/10;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 13:17:47
机译： 电气测量设备基于感应负载¬检测电特性变化，该感应负载是在磁场偏移作用下的半导体，在磁性质谱仪的情况下用于确定质量的感应负载¬
机译： 电气测量设备，其基于电气特性的变化，是在磁场偏移作用下的半导体
机译： 电气三脚架测量装置，该电气三脚架测量装置根据半导电体在磁场作用下的电学特性变化而移动
