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Instrument for measuring absolute reflectance and transmittance at cryogenic temperatures

机译：低温下绝对反射率和透射率测量仪

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机译：

著录项

  • 公开/公告号US3402634A

    专利类型

  • 公开/公告日1968-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NAVY USA;

    申请/专利号US19650444090

  • 发明设计人 BENNETT HAROLD E.;

    申请日1965-03-30

  • 分类号G01N21/55;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 12:51:12

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