首页> 外国专利> Arrangement for the direct measurement of the transmission parameters of high frequency four poles, in particular for the determination of the high frequency - gain - and rueckwirkungsparameter of transistors, with the aid of directional couplers

Arrangement for the direct measurement of the transmission parameters of high frequency four poles, in particular for the determination of the high frequency - gain - and rueckwirkungsparameter of transistors, with the aid of directional couplers

机译:通过定向耦合器直接测量高频四极传输参数的装置,特别是用于确定晶体管的高频-增益-和rueckwirkungs参数的装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE1516130A1

    专利类型

  • 公开/公告日1969-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MUESZERIPARI KUTATO INTEZET;

    申请/专利号DE19651516130

  • 发明设计人 HAMPELANTAL;KLATSMANYIARPAD;

    申请日1965-01-05

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 12:11:34

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