首页> 外国专利> Method and apparatus for phase measurement of weak high frequency signals in the comparison with the location signal with etalon frequency

Method and apparatus for phase measurement of weak high frequency signals in the comparison with the location signal with etalon frequency

机译:与具有标准具频率的定位信号比较,用于微弱高频信号的相位测量的方法和设备

摘要

机译:

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号