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机译:用于微电路清洗的测试仪以及用于生产这种测试设备的接触场的方法
公开/公告号DE1640504A1
专利类型
公开/公告日1970-10-22
原文格式PDF
申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP.;
申请/专利号DE19671640504
发明设计人 GEORGE BARONDAVID;EDWARD RUOFFCARL;
申请日1967-01-12
分类号G01R31/02;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 11:01:15
机译: 用于在微电路测试系统上测试引脚的维护设备,包括用于容纳维护板的盒以及将其移动至与微电路测试引脚接触的装置
机译: 微型电路测试仪的导电开尔文触点
机译: 微电路测试仪的导电开尔文触点