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device for measuring the profile of a bandfoermigen metallbahn, especially one on a support, e.g. a kunststoffband, raised high

机译:用于测量带状金属离子的轮廓的设备,特别是在支撑物上的金属带轮廓的设备,例如昆斯特乐队,高高举起

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000001923800A

    专利类型

  • 公开/公告日1970-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE1923800A

  • 申请日1969-05-09

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 09:55:48

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