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METHOD OF AND APPARATUS FOR INDICATING SEMICONDUCTOR ISLAND THICKNESS AND FOR INCREASING ISOLATION AND DECREASING CAPACITY BETWEEN ISLANDS

机译:指示半导体岛屿厚度并增加岛屿之间的隔离和减少容量的方法和装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE2050474A1

    专利类型

  • 公开/公告日1971-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA INC;

    申请/专利号DE19702050474

  • 发明设计人

    申请日1970-10-14

  • 分类号H01L;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:57

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